常见问题 FAQ

当然可以!

请访问我们的 在线商店 进行购买。

AMFITRACK™ 系统由一个电磁场源(发射器)和一个或多个无线电磁场传感器(接收器)组成。传感器测量由源产生的电磁场,并计算其相对于电磁场源的位置和方向,然后通过无线或USB传输数据。

电磁跟踪没有视线遮挡、直射阳光、黑暗环境、白色背景和镜头污垢等相机解决方案存在的问题。

此外,电磁跟踪技术不像基于IMU的跟踪系统那样存在随时间漂移的问题。

使用电磁跟踪的唯一缺点是,传感器或源附近的金属(铁磁性和非铁磁性金属)会在一定程度上干扰并降低精度性能。

AMFITRACK™ 有几种解决方案来降低这种影响。联系我们 了解更多信息。

有的!

请在我们的 下载中心 找到手册,或查看 在线版本

可以!

AMFITRACK™ 背后的公司 Amfitech 提供工程服务,可以在咨询基础上和/或许可费的基础上定制PCB尺寸、功能、成本优化等。

联系我们 进一步讨论我们提供的不同选项。

是的!

我们提供多种支持软件,如SDK(C、C#、C++和Python)、Windows应用程序(3D查看器和配置工具)以及Unity、Unreal等的演示项目。在我们的 下载中心 免费获取最新版本。

请查看我们 产品手册 中的精度与距离图表示例(包括位置和方向)。可以激活高级IMU/EMF传感器融合算法以获得更好的精度性能。

注意:可以通过微调采样率、源功率、源线圈尺寸和传感器线圈灵敏度来优化精度。

请查看我们 在线手册 中关于源、传感器和集线器的完整LED指南。

可以!

通过使用我们免费的 AMFITRACK™ Viewer(Microsoft Windows应用程序),可以配置多个参数 (在此免费下载)。更新/采样率可以配置为每个传感器25Hz到250Hz。

AMFITRACK™ 基于电磁场跟踪技术。由于技术本质和所基于的物理原理,操作场中存在的金属会或多或少地影响系统的性能和精度。

一些经验法则:
• 源和传感器之间视线内的金属比源或传感器后面的金属更关键
• 源和/或传感器附近(<50mm)的大型金属物体是关键的
最小化金属干扰问题的一些方法:
• 系统知道何时有金属存在,因为B场的意外偏斜,可以警告用户(场质量指数)
• 如果金属在操作场中是静态的 - 可以校准出干扰
• Amfitech正在研究其他避免/限制动态金属干扰的方法